常翔学園 摂南大学図書館

論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB99230695>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 2 摂本館 摂寝保存書庫 549.08||I||4 28505485 帯出可 0件
No. 0001
巻号 2
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝保存書庫
請求記号 549.08||I||4
資料ID 28505485
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル/著者 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
シリーズ名 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB99535060> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU50000422>
著者標目リンク 浅田, 邦博(1952-)||アサダ, クニヒロ <AU10025919>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU10076126>
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ