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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB50301819>
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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB50301819>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 広国三 広3図書 371.7||M 32230512 帯出可 0件
0002 摂本館 摂寝2F普通図書フロア 376.87||M 22305806 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 広国三
配置場所 広3図書
請求記号 371.7||M
資料ID 32230512
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝2F普通図書フロア
請求記号 376.87||M
資料ID 22305806
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アルノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
出版・頒布事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9
形態事項 ix, 239p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN 9784779516832
その他の標題 標題紙タイトル:test
その他の標題 裏表紙タイトル:Item response theory
その他の標題 その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方
テスト ワ ナニ オ ハカルノカ : コウモク ハンノウ リロン ノ カンガエカタ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
注記 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」 (2017年刊) の姉妹編
注記 参考文献: p233-237
注記 事項索引: p238
注記 人名索引: p.239
学情ID BC17143066
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 光永, 悠彦(1979-)||ミツナガ, ハルヒコ <AU50157567>
著者標目リンク 西田, 亜希子(1976-)||ニシダ, アキコ <AU50158131>
件名標目等 教育測定||キョウイクソクテイ
件名標目等 試験 (教育)||シケン(キョウイク)
件名標目等 入学試験(大学)||ニュウガクシケン(ダイガク)
件名標目等 入学試験 -- 大学 -- 日本||ニュウガクシケン -- ダイガク -- ニホン
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