常翔学園 摂南大学図書館

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 3rd ed. -- IEEE Press, 2006. <BB99064341>
この書誌にはまだスタンプは押されていません。


登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 摂本館 摂寝2F普通図書フロア 549.8||S 20710122 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝2F普通図書フロア
請求記号 549.8||S
資料ID 20710122
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル/著者 Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版事項 3rd ed
出版・頒布事項 [S.l.] : IEEE Press
出版・頒布事項 Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience , c2006
形態事項 xv, 779 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0471739065
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA76086798
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Schroder, Dieter K. <AU00017690>
件名標目等 Semiconductors
件名標目等 Semiconductors -- Testing