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常翔学園 摂南大学図書館

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VLSI reliability

Anant G. Sabnis. -- Academic Press, 1990. -- (VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22). <BB99744404>
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Anant G. Sabnis. -- Academic Press, 1990. -- (VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22). <BB99744404>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 ALK. 摂本館 摂寝保存書庫 549.8||V||22 29002286 帯出可 0件
No. 0001
巻号 ALK.
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝保存書庫
請求記号 549.8||V||22
資料ID 29002286
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 VLSI reliability / Anant G. Sabnis
出版・頒布事項 San Diego ; Tokyo : Academic Press , c1990
形態事項 xiii, 207 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0122341228
シリーズ名 VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch <BB00123931> v. 22//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA10165146
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Sabnis, Anant G. <AU50101987>
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability
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