常翔学園 摂南大学図書館

Atom-probe field ion microscopy and its applications

Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering. -- Academic Press, 1989. -- (Advances in electronics and electron physics : supplement / edited by L. Marton ; assistant editor, Claire Marton ; editorial board, T. E. Allibone ... [et al.] ; Supplement 20). <BB99660189>
この書誌にはまだスタンプは押されていません。


登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 摂本館 摂寝保存書庫 549.043||A||S./20 28909681 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝保存書庫
請求記号 549.043||A||S./20
資料ID 28909681
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル/著者 Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
出版・頒布事項 Boston : Academic Press , c1989
形態事項 vii, 299 p : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0120145820
シリーズ名 Advances in electronics and electron physics : supplement / edited by L. Marton ; assistant editor, Claire Marton ; editorial board, T. E. Allibone ... [et al.] <BB99198814> Supplement 20//a
注記 Bibliography: p. 275-292
注記 Includes index
学情ID BA06995219
本文言語コード 英語
著者標目リンク 酒井, 明||サカイ, アキラ <AU50080080>
著者標目リンク Pickering, H. W. <AU50080081>
著者標目リンク 桜井, 敏雄(1927-)||サクライ, トシオ <AU10046331>