常翔学園 摂南大学図書館

IEEE design & test of computers

IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00022427>
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No. 所蔵館 配置場所 配置場所2 請求記号 巻号 年月次 購読状況 アラート
0001 工枚方 工枚雑誌書架 工枚保存書庫 548.053||I 16-25 1999-2008
0002 工大宮 工大4F集密書架製本雑誌 工大保存雑誌 548.053 10-20 1993-2003
0003 摂本館 摂寝B1保2雑誌 摂寝保存書庫雑誌 548.053 1-9 1984-1992
No. 0001
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚雑誌書架
配置場所2 工枚保存書庫
請求記号 548.053||I
巻号 16-25
年月次 1999-2008
購読状況
アラート
No. 0002
所蔵館 工大宮
配置場所 工大4F集密書架製本雑誌
配置場所2 工大保存雑誌
請求記号 548.053
巻号 10-20
年月次 1993-2003
購読状況
アラート
No. 0003
所蔵館 摂本館
配置場所 摂寝B1保2雑誌
配置場所2 摂寝保存書庫雑誌
請求記号 548.053
巻号 1-9
年月次 1984-1992
購読状況
アラート

書誌詳細

タイトル/著者名 IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
巻次・年月次 Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012)
出版・頒布事項 [Los Alamitos, Calif.] : IEEE Computer Society , c[1984]-2012
形態事項 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE des. test comput (Print)
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE design & test of computers (Print)
その他の標題 異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design & test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design and test of computers
その他の標題 欄外タイトル:IEEE design & test
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers
注記 Title from cover
注記 Vol. 1, no. 1 also called premiere issue
注記 Issued also in microfiche
注記 Quarterly, 1984; bimonthly, 1985-
注記 Place of publication varies: New York, N.Y.
学情ID AA10630714
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 隔月刊
ISSN 07407475
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE design & test / IEEE <SB99666696>
著者標目リンク IEEE Computer Society <AU10034014>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU10021351>
件名標目等 Computer engineering -- Periodicals
件名標目等 Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals